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一、鈣鈦礦太陽能電池介紹太陽能電池是一種能將太陽能轉(zhuǎn)換為電能的光伏器件。太陽能電池可以應(yīng)用于發(fā)電廠，照明，汽車，通風(fēng)系統(tǒng)等商用和家用的場(chǎng)景。太陽能電池可以分為第一代、第二代和第三代電池。第一代電池也稱為傳統(tǒng)電池或晶硅電池，由商業(yè)上占主導(dǎo)地位的晶體硅制成，包括多晶硅和單晶硅等材料。第二代電池是薄膜太陽能電池，包括非晶硅，CdTe和CIGS電池。第三代太陽能電池包括多種薄膜技術(shù)，通常被稱為新興光伏技術(shù)。晶硅電池的理論極限效率為29.4%，考慮到光學(xué)與電學(xué)的實(shí)際可能的損失后,其實(shí)際...

反射透射測(cè)量?jī)x是一種用于準(zhǔn)確測(cè)定材料光學(xué)特性的精密儀器，主要用于測(cè)量樣品對(duì)光的反射率、透射率以及由此推算出的吸收率。它被廣泛應(yīng)用于光學(xué)材料研發(fā)、薄膜鍍膜、半導(dǎo)體、光伏、建筑玻璃及各類新型材料的性能表征與質(zhì)量控制。反射透射測(cè)量?jī)x是基于光學(xué)的反射、透射現(xiàn)象：向待測(cè)樣品發(fā)射特定波長(zhǎng)光線，分別測(cè)量被樣品反射的光強(qiáng)和透過樣品的光強(qiáng)，與入射光強(qiáng)對(duì)比后計(jì)算得到樣品的反射率和透射率。操作要點(diǎn)：定期校準(zhǔn)與基線校正：測(cè)量前必須使用標(biāo)準(zhǔn)參考白板和空氣/空白基片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，以消除光源波動(dòng)和環(huán)境雜...

在半導(dǎo)體制造和精密加工領(lǐng)域，晶圓形貌量測(cè)是確保工藝良率、設(shè)備可靠性和器件性能的關(guān)鍵質(zhì)量管控環(huán)節(jié)，可避免工藝過程中出現(xiàn)光刻失焦、設(shè)備碎片、鍵合空洞、刻蝕不均勻等一系列問題。TTV與翹曲度的測(cè)量是貫穿半導(dǎo)體前道工藝的核心幾何量計(jì)量，其本質(zhì)在于通過對(duì)硅片宏觀三維形貌的嚴(yán)格管控，消除微觀電路制造過程中的物理不確定性，從而保障光刻對(duì)準(zhǔn)、工藝均勻性、設(shè)備安全及最終產(chǎn)品的電性能與可靠性。頤光科技的MSM系列高精度晶圓形貌測(cè)量設(shè)備，可滿足晶圓形貌的高精度量測(cè)。MSM系列產(chǎn)品n技術(shù)原理n應(yīng)用場(chǎng)...

中科大、河南大學(xué)與多倫多大學(xué)聯(lián)合團(tuán)隊(duì)在《NaturePhotonics》發(fā)表研究，利用混合相CdZnSeS量子點(diǎn)中的偶極-偶極相互作用使量子點(diǎn)有效排列，增強(qiáng)了發(fā)光二極管中的光子外耦合。通過該技術(shù)突破平面QD-LED外量子效率30%的理論極限，實(shí)現(xiàn)35.6%的峰值外量子效率。DOI:10.1038/s41566-023-01344-4一、行業(yè)核心痛點(diǎn)長(zhǎng)期以來，QD-LED的外量子效率（EQE）一直受限于光子出射耦合效率不足，通常只有大約30%的光子能逸出器件。傳統(tǒng)的各向異性納米...

膜厚測(cè)試儀是用于精確測(cè)量材料表面涂層、鍍層或薄膜厚度的精密儀器，覆蓋從納米到毫米級(jí)測(cè)量，廣泛用于半導(dǎo)體、汽車、電子、光學(xué)等行業(yè)。膜厚測(cè)試儀根據(jù)測(cè)量原理的不同，主要分為以下幾種類型：磁性法：適用于測(cè)量磁性基底上的非磁性涂層的厚度。通過測(cè)量磁場(chǎng)強(qiáng)度的變化來確定涂層的厚度。渦流法：適用于測(cè)量非磁性基底上的涂層厚度。通過在探頭中產(chǎn)生高頻交流電，產(chǎn)生渦流，渦流的強(qiáng)度和相位變化與涂層的厚度有關(guān)，從而可以測(cè)量涂層的厚度。超聲波法：通過發(fā)射和接收超聲波脈沖來測(cè)量涂層的厚度。超聲波在不同材料中...

顯微膜厚儀是一種集顯微鏡成像與膜厚測(cè)量功能于一體的高精度儀器，能夠在微小區(qū)域內(nèi)實(shí)現(xiàn)非接觸、非破壞性的薄膜厚度測(cè)量。功能與性能參數(shù)：多參數(shù)測(cè)量：厚度范圍：覆蓋1nm至毫米級(jí)，支持單層至多層薄膜分析。光學(xué)常數(shù)：同步獲取折射率（n）和消光系數(shù)（k），為材料性能研究提供數(shù)據(jù)支持。反射率譜：實(shí)時(shí)顯示干涉條紋、FFT波譜及膜厚趨勢(shì)，輔助工藝優(yōu)化。高速與自動(dòng)化：測(cè)量速度：部分型號(hào)實(shí)現(xiàn)1點(diǎn)/秒的高速測(cè)量，大幅提升生產(chǎn)效率。軟件支持：內(nèi)置分析向?qū)?，即使初學(xué)者也能快速完成光學(xué)常數(shù)計(jì)算；支持?jǐn)?shù)據(jù)存...