本公司提供的IRE-200膜厚測試儀是一款超高精度的外延層厚度測量設備，利用紅外光譜經傅里葉變換進行快速分析，主要應用于Si、GaAs、InP、SiC、GaN等各類外延片的外延層厚度測量。

特點：

單拋/雙拋等多種模式選擇支持；

自定義mapping功能；

高檢測速率：Si標準外延片測量25點≤3min；

高檢測精度：≤0.01um。

膜厚測試儀的適用場景：

‌工業涂鍍層檢測‌：汽車、五金、防腐行業，測量鋼鐵/鋁合金表面的油漆、鍍鋅、鍍鉻、陽極氧化膜厚度，保障涂層防護性能達標。

‌半導體與光學行業‌：晶圓光刻膠、SiO?鈍化層、AR抗反射膜等納米級薄膜的厚度管控，直接決定芯片良率與光學元件性能。

‌新能源與軟包裝行業‌：鋰電池隔膜、鋁塑膜、藥用復合膜、食品包裝薄膜的厚度均勻性檢測，保障材料阻隔性與拉伸強度穩定。

科研場景‌：各類新型功能薄膜、二維材料的厚度表征，支撐材料研發與工藝迭代。